一般红外热像仪加装锗玻璃是作为仪器的窗口，起到对后续光学系统及红外探测器件的保护作用。但由于锗材料的折射率为4，直接使用会对入射信号产生较大损失，为了提高红外信号的透射能力，锗玻璃上还需镀制合适的薄膜，以提高透射率并保护锗透镜表面。 锗夹层玻璃，在2-16um具备非常好的透光度能，物理性质也相对稳定，不容易与氢氧化物，酸性物质气体和水反映。红外线测温仪器和热成像仪里边必须采用中远红外线的滤色片，DIAS红外测温仪和热成像仪一般工作中波段在2-13um，而锗夹层玻璃恰好先在远红外线具备非常好的透光度，一般的光学镜片在这种波段透过率极低，因此没办法完成。 再加在锗夹层玻璃上镶上光学薄膜，能够 大大增加它的透过率，降低锗夹层玻璃表层的透射率。锗夹层玻璃在不可见光波段不是通过的。在一些热成像仪中人们还可以用硅晶体来替代锗夹层玻璃，硅晶体的波段没锗夹层玻璃那么远。
硅(Si)多晶硅是一种有机化学可塑性原材料，强度高，不溶解水，它在1-7μm波段具备非常好的透光度能，另外它在远红外线波段300-300μm也具备非常好的透光度能，它是其他光红外线原材料所不具备的特性。
硅(Si)多晶硅一般用以3-5μm中波红外线学对话框和电子光学滤光的基片，因为该原材料传热性能好，相对密度低,，也是制做激光器反射镜片或DIAS红外测温仪及红外线光学激光镜片的常见原材料。
通红外热成像仪和DIAS红外测温仪窗口上用锗玻璃，主要考虑8-14um这一波段，不镀膜情况下锗玻璃的透过率只有40-50%，而镀了增透膜之后的透过率可以达到90%。而且多数客户在锗玻璃还会要求镀DLC类金刚石碳膜，用来加强锗玻璃的硬度，起到一定的防爆效果。
红外测温技术检出的电力设备的故障类型主要分为两大类：
一、设备的外部热故障。
指设备的发热部位裸露于环境中,采用红外热像仪直接观测其表面热分布状态,并迅速确定其位置。外部热故障产生的主要原因是设备部件的接触电阻异常增大引起的。
(1)设备部件接触面不平整或氧化。
(2)接触面的连接质量问题.
使用红外热像仪检出的常见设备外部故障有:各种裸露的电气接头部分,如隔离刀闸触头、穿墙套管接头、电设备出线接头等
二、设备的内部热故障。
电力设备由于内部故障发热,而发热的部位封闭于设备内部,无法采用热像仪直接观察、确定故障的具体位置,只能通过获取设备表面的热分布图,进行分析、类比加以判断。
造成设备内部故障原因如下：
(1)设备内部电气连接或触头接触不良,引起的电流热效应。
(2)内部介质损耗增大引起发热。
(3)内部电压分布不良或泄漏电流过大引起发热。
(4)内部绝缘老化、受潮、缺油或涡流引起(铁损增大)发热。
